金屬鍍層的厚度是衡量鍍層質(zhì)量的重要指標(biāo)之一，將會(huì)直接影響材料的使用性能，為了準(zhǔn)確的評(píng)定金屬鍍層的厚度，就可以使用膜厚儀來進(jìn)行檢測(cè)。本文就給大家?guī)沓Ｓ玫?/span>膜厚儀的適用范圍，感興趣的用戶不妨來看看吧！
一、膜厚儀可以測(cè)鍍層厚度嗎？
現(xiàn)在已經(jīng)有很多種采用儀器進(jìn)行厚度測(cè)量的方法。比如采用探頭或測(cè)試頭等對(duì)鍍層進(jìn)行直接測(cè)量的測(cè)厚儀，其原理有磁性法、渦流法、β射線反向散射法、熒光X射線法等。
常用的便攜式膜厚儀主要采用的就是磁性法以及渦流法。
應(yīng)用磁性法的膜厚儀可以快速、準(zhǔn)確的無損檢測(cè)各種涂覆在磁性金屬基底上的非磁性涂層厚度。如在鋼鐵、鎳材表面的鍍鉻層、鍍銅層、鍍鋅層、油漆層、噴粉層等，均可用Fe基探頭進(jìn)行測(cè)量。
而應(yīng)用渦流法的膜厚儀可以快速、準(zhǔn)確的無損測(cè)定各種涂覆在非磁性金屬基底上的各種不導(dǎo)電的涂層厚度，如在如鋁、銅、黃銅、不銹鋼等材料表面的油漆層、噴粉層、涂瓷層等，用NFe基探頭檢測(cè)。
如果用戶想要測(cè)量鍍層厚度，首先就要考慮基材是磁性還是非磁性，然后選定不同的測(cè)試方法來進(jìn)行檢測(cè)。
二、膜厚儀檢測(cè)鍍層厚度的原理：
磁性測(cè)厚法是利用被測(cè)試樣與標(biāo)準(zhǔn)磁體之間的吸引力的變化來轉(zhuǎn)換成鍍層的厚度。這種方法只能適用于對(duì)磁性能敏感的基體上的非磁性鍍層，如鋼鐵基體上的銅、鋅、錫等鍍層。鋼件上的鎳鍍層就不能很好地測(cè)量出結(jié)果。
磁性測(cè)厚法的優(yōu)點(diǎn)是對(duì)鋼鐵基體上的非磁性鍍層提供了一種快速的測(cè)量方法，其準(zhǔn)確度可達(dá)85%-90%。測(cè)量樣件的粗糙度對(duì)測(cè)量結(jié)果有影響。如果被測(cè)件的基體很薄時(shí)，比如樣片厚度低于0.25mm時(shí)，會(huì)有較大測(cè)量誤差，這時(shí)可以在樣片后另加一個(gè)與基體材料相同的厚一些的無鍍層材料來減少誤差。
磁性法的缺點(diǎn)是受磁性能要求的限制，所以適應(yīng)于該方法的基體材料和鍍層有限。所謂渦流測(cè)厚是通過探針使基體為導(dǎo)電材料表面一定深度內(nèi)發(fā)生瞬間震蕩電流回路。渦流電路的強(qiáng)度受鍍層的厚度和基體材料的導(dǎo)電性能的影響。當(dāng)鍍層減薄時(shí)，會(huì)有更高的渦流電流通過基體，而當(dāng)鍍層增厚時(shí)，通過基體的電流強(qiáng)度會(huì)減弱，據(jù)此可以計(jì)算出鍍層厚度。
渦流法可以用于金屬材料基體上的金屬或非金屬鍍層的測(cè)厚，也可以用于非金屬材料上的金屬鍍層的測(cè)厚，并且是非破壞性測(cè)厚法，因而也是應(yīng)用較廣的一種測(cè)厚法。特別是在涂料層的測(cè)厚應(yīng)用更多，對(duì)鍍層較薄時(shí)的誤差會(huì)較大。
